直流电法勘探

  一、基本原理

 

  电法勘探主要研究地层电学性质及电场、电磁场变化规律，根据研究对象的电性差异，经仪器测量电场分布，进而研究电场的分布规律，以了解地下深处地质体的状况，从而达到勘探结果。

 

  在常用的电法勘查中有利用不同介质导电性差异为物性基础的电阻率法和充电法；有利用不同介质导电性和电化学活动性差异为物性基础的自然电场法和激电法；有利用不同介质导电性和导磁性差异为物性基础的电磁法。

 

  二、各种方法简介

 

  1、电测深法

 

  在同一测点上逐次扩大电极距使探测深度逐渐加深，观测测点处在垂直方向由浅到深的电阻率变化，并依据目的体与周边介质电阻率的差异，探测地下介质分布特征的一种电法勘探方法。

 

  2、K剖面法

 

  反射系数K剖面法是以电磁场和波动场为理论基础的一种电法勘探方法，它从现场数据采集到解释方法理论上突破了常规的视电阻率量板法的思路，建立了一整套的数值解释处理方法。早期的K剖面解释中只应用了一次微分K、二次微分K等几个基本的参数，且大部分只能进行单支曲线的求解。经过多年来的完善，当前应用的K剖面法已发展成利用曲线的一次微分K、二次微分K及相关参数推导出直接与岩体的孔隙率相关的广义充填系数vK，以及与软弱界面相关的广义界面系数vJ。利用这些参数更能较好地反映岩土体中包含不同电阻率地质体及构造体的相对概念，这对解决岩溶、构造破碎带、滑坡体物质分区及滑面探测等工程地质问题更为有效。它的优点在于利用了相对精度提高的似真电阻率zρ为基础的vK参数来解决地质异常问题，而传统的电法勘探是直接以视电阻率sρ来解决地质问题的，因此，大大提高了勘探精度。

 

  3、电剖面法

 

  将某一装置极距保持不变，沿测线观测地下一定深度内大地电阻率沿水平方向的变化，依据目的体与周边介质的电阻率差异，探测地下介质特征的一种电法勘探方法。

 

  4、高密度电法

 

  电测深与电剖面方法的组合，其观测点密度高，可同时探测水平和垂直方向上电性变化的一种电法勘探方法。

 

  5、激发极化法

 

  依据目的体与周边介质的激发极化效应差异，探测地下介质分布特征的一种电法勘探方法。

 

  6、自然电场法

 

  通过观测地下介质的电化学作用、地下水中微粒子的过滤作用、岩体水中盐的扩散和吸附作用等产生的自然电场规律和特点，了解水文工程地质问题的一种电法勘探方法。

 

  7、充电法

 

  通过向被探测目的体供电，提高被探测目的体与周边介质的电位差并形成充电效应，探测目的体分布特征的一种电法勘探方法。